供应三菱便携式低阻抗率计 MCP-T370

特色：  维持安定之高质量，依据世界之四探针理论之之阻抗率计
操作简单，现场使用携带型方便，用于生产技术、质量管理  
测定范围：  10-2～106Ω  
资料输出：  USB Memory  
体积：  约 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g  
标准配备  
   
  ASP探头 MCP-TPO3P《四探针探头》 
利用广泛标准探头JIS K7194对应，
Pin间 5mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支，
尺寸 35W×20L×35Hmm  
   
  MCP-TA06 充电器  
   
选购品  
   
  ESP探头 MCP-TPO8P《四探针探头》 
不均一样品用
Pin间 5mm，Pin尖 ? 2×4支，压力 240g/支，
尺寸 35W×20L×35Hmm  
   
  PSP探头 MCP-TPO6P《四探针探头》 
小样品或薄膜用
Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支，
尺寸 ? 10-20× L112mm  
   
  QPP探头 MCP-TPQPP《四探针探头》 
微小样品用
Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支，
尺寸 ? 10-20× L112mm  
   
  NSCP探头 MCP-NSCP《四探针探头, 特殊用探头》 
Silicone wafer用
Pin间 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，压力 250g/支  
   
  BSP探头 MCP-TPO5P《四探针探头, 特殊用探头》 
大样品用
Pin间 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支  
   
  TFP探头 MCP-TFP《四探针探头, 特殊用探头》 
Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用
Pin间 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，压力 50g/支  
   
  AP探头 MCP-T**《二探针探头》 
标准样式
Pin间 10mm，Pin尖 ? 2×2支，压力 240g/支  
   
  BP探头 MCP-TPBP《二探针探头》 
大样品用
Pin尖 ? 2×2支，压力 240g/支  
   
  MCP-TRF1探头检验片 
ASP, ESP探头用 (探头检验片于测定前检查之)  
   
  MCP-TRPS 探头检验片 
PSP探头用 (探头检验片于测定前检查之)  
   
  MCP-TRTF 探头检验片 
TFP, NSCP探头用 (探头检验片于测定前检查之)